| 样品分析仪装置的方法 |
| JP2009223140 2009-9-28 发明申请 |
| 2011-4-7 |
| 要解决的问题 : 以提供一样品分析仪能够容易地计算的等离子体损耗的图像。溶液 : 一个输入部分11获取实验条件和样品信息在一杆-鳗鱼方法和一种损耗功能的操作基于损耗函数计算sectin12所述样品上的信息，和一个吸收电位操作部13计算两个类型通过狭缝被认为是否一个能量吸收的电位或不基于所述损耗函数和一个狭缝设置在等离激元的能量吸收区的一个的所述实验条件，整个散射电子强度操作部分14计算第一和第二的整个吸收散射电子强度基于所述两个类型的电位; 和一个等离子体损耗图像产生部分15产生所述等离子体损耗从所述之间的差值图像第一和第二整个散射电子强度。版权 : (C)2011，inpit |
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