| 试样分析仪 |
| CN200910129177.0 2009-3-27 发明申请 |
| 2009-9-30 |
| 提供一种可以用共同的分析程序分析各种试样的试样分析仪。 试样分析仪包括：量子化信息获取部件，用于获取表示所述试样 中粒子特征的、量子化为一定位数的量子化信息；第一生成部件，从 所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样 中的粒子分类为多类粒子的第一分类数据；第二生成部件，从所述量 子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒 子分类为多类粒子的、不同于第一分类数据的第二分类数据；存储设 备，储存用于将所述试样中粒子分为多类粒子的分类条件；及分类部 件，根据所述第一分类数据和所述第二分类数据其中之一及所述分类 条件，将所述试样中的粒子分成多类的粒子。 |
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