可调光束点扫描电子显微镜和使用其的测量方法
 
KR1020130094300  2013-8-8  发明授权

2014-10-24
 
  本发明涉及一种可调节的射束点的扫描电子显微镜及测量方法相同。扫描电镜(SEM)中具有电磁移动的电子束源的电子束炉样品的扫描电子显微镜(SEM)与直线照射,通过控制电子束的电子束点,照射在样品上,具有一定的长度和宽度彼此不同。测量光束时输出从电子束源,控制单元控制的电磁施加的电压来控制电子的比率和方向束斑。版权kipo Br>2015<
 
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