原子力显微镜光束定位装置
 
US13999614  2014-3-12  发明申请

2014-10-23
 
  本发明涉及一种光束定位系统,能够将两个或多个不同波长的光束组合聚焦到科学仪器的探针或样品上, 例如原子力显微镜,用于许多典型的AFM的特定用途,如测量探针的偏转或振荡和照明用于光学成像的对象,以及较不传统的用途,如探针的光热激发、样品中的光热激活变化、探针的光热清洁以及样品中的光化学、光伏、光热和其它光束引起的变化。 聚焦光束可以相对于彼此独立地定位。
 
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