| 样品分析仪和样品分析方法。 |
| JP2009078286 2009-3-27 发明申请 |
| 2010-10-14 |
| 要解决的问题 : 以提供一样品分析仪允许对齐的相干X-射线与一个样品在一个短时间。溶液 : 当一个X-射线光学轴和一样品1被对准，一种X-射线与一波长较长比在测量所述样品被提取和从相干X-射线或X-射线照射具有一个相同的光学轴与通过一光谱仪11的相干X-射线，X-射线照射到外部的照射位置是通过一个样品吸收支撑部分14，它包括一个孔14h在所述X-射线的照射位置用于该分析的样品对象和以其一种X-射线吸收层14aC用于吸收X-射线照射到所述的外侧照射位置被形成的，和一个透射X-射线强度的X-射线照射到样品1通过所述样品支撑部分14支撑是由所述检测器15检测。版权 : (C)2011，inpit |
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