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纳米孔测序的装置和方法。

WOUS10001072 2010-4-9 发明申请

2010-10-14

本发明涉及的装置和方法用于纳米孔测序。本发明包括的纳米孔阵列具有引入电子电路，用于例如，在CMOS。在某些情况下，该阵列的纳米孔包括电阻开口用于分离所述的电子信号的一种改进的测序。用于控制通过所述的纳米孔是公开的易位的方法。