双-探针扫描探针显微镜
 
WOUS14028250  2014-3-14  发明申请

2014-9-18
 
  一种探针定位的装置和方法的一种原子力显微镜(AFM)包括使用一种双探针配置在其两个探针被制成与一个单碱基,还有独立地操作,反馈控制是基于之间的交互所述参考探针和表面,给出一个指示所述表面的所述的位置,与这种控制是基于修改所述高度差在尖端上的所述两个探针,以允许所述感测探头到被位于相对到该样品在一个范围小于10纳米。
 
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