| 样品分析仪和样品分析方法。 |
| JP2006132084 2006-5-11 发明申请 |
| 2007-11-22 |
| 要解决的问题 : 以提供一种方法，其对应于所述的主题相关，以一样品保持架，样品预处理和一样品架，用于分析一个结构，一种组合物和一种电子装置中的状态操作状态由施加外部电压到一个样品被样品中观察到的分析仪包括一个传输电子的显微镜，及一个样品分析方法。溶液 : 所述样品分析仪包括所述样品保持架(Mesh)包括第一的布线结构能够被连接到该外部电压施加所述样品的位置和所述样品夹持器，包括第二的布线结构，其可以被连接到第一的布线结构，和一个电流引入终端。该样品保持架能够分析的所述结构，该组合物和所述电子通过施加电压状态，以所述样品到该外部电压的施加位置被观察到或允许电流流动到所述外部通过第二和第一处的电压施加的布线结构，一个样品预处理方法和所述样品分析方法被还提供。版权 : (C)2008，inpit |
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