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材料分析用基板、系统和方法

US12896515 2010-10-1 发明申请

2011-4-7

用于分析材料的基片、系统和方法，其包括设置在基片上或基片内的波导阵列，使得从波导发出的消逝场照射设置在基片表面上或基片表面附近的材料，从而允许分析这样的材料。所述底物、系统和方法用于各种分析操作，除其他外包括核酸分析，包括杂交和测序分析、细胞分析和其他分子分析。