| 多模的局部探针显微镜，通过显微镜的申请所述探针尖端之间的距离和用于调节所述的方法和所述样品本地 |
| FR13050637 2013-1-24 发明申请 |
| 2014-7-25 |
| 本发明涉及一种多模式扫描探针显微镜具有一个谐振器(1)，(9)第第一电极和一个第二电极(8)，激励源适合于以产生机械谐振在所述谐振器，一尖端(4)。金属固定在所述谐振器的装置，用于所述扫描探针和样品之间的相对移动所述的适于接近所述端0之间的距离Z处的所述尖端和100nm，和装置，用于检测至少一个跨越所述的摩擦力的电气信号代表所述电极(8，9)。根据本发明，所述金属尖端(4)是电连接到所述第二输出电极(9)和所述显微镜装置包括装置，用于放大和以摩擦的力有关的滤波信号和所述隧穿电流在一个和所述相同的电子电路的装置，用于调节所述端部之间的距离Z的所述尖端和所述样品的表面。 |
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