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近场偏振光测量装置
JP2005122311 2005-4-20 发明授权
2011-10-12
近场极化光测量装置10包括一近场探头14,分析仪18,探测器22,和分析仪旋转单元20。该近场探头14具有在其顶端开口小于波长的光用于测量并产生线性极化从开口近场光,照射到样品与所述近场光。检测器22检测通过样品传输的光通过该分析仪18。该分析仪旋转单元20转动的分析仪18绕着光轴以改变角度的传输轴。和旋光的通过旋转测量样品分析仪18与分析器-旋转单元20。
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