| 用荧光显微镜观测样本的方法 |
| CN201410027787.0 2014-1-22 发明申请 |
| 2014-7-23 |
| 本发明公开了用荧光显微镜观测样本的方法。本发明涉及用荧光显微镜检查TEM格栅(12)上的样本的部分的方法，如当执行关联显微镜检查时出现的，更具体地针对在有孔碳格栅上的样本。当使在其中具有样本材料(22)的玻璃化冰(20)成像时出现问题，因为冰被所使用的光加热。本发明基于如下认识：碳支撑膜(16)中的吸收尤其是造成加热的原因，因为冰几乎不吸收光。通过使荧光显微镜的照射局部化至在碳中的孔洞(18)上面的样本部分，对冰的加热得以减少。该局部化能够通过例如使光通过LCD型空间光调制器来实现。 |
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