样本分析仪
 
JP2005156950  2005-5-30  发明授权

2011-1-19
 
  

要解决的问题 : 降低串扰造成的影响,散射光从下一个样品的样品中的分析装置,具有多个分析部分被平行设置。方法 : 多个光源13-18被调制的不同调制频率,以及仅仅希望的频率的信号分量被检测的分离。'

版权 : (C)2007,隆起部'

 
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