| 样品分析仪 |
| JP2004362884 2004-12-15 发明申请 |
| 2006-6-29 |
| 要解决的问题 : 以解决该问题，即它示出了所述光电子分析的位置是难以所获得的图像分析仪上通过一与一位置读取功能的光学显微镜。溶液 : 在所述样品分析仪配备有一样品架，其是用于将一个样品和具有所述该样品的所述的坐标参考点，一个第一测量装置，用于读取样品第一的图像所述样品以设定所述的坐标，一个第二测量装置，用于读取样品第二的图像以所述样品和所述数据设置所述的坐标处理装置连接到第一和第二测量装置，以该样品的图像处理和坐标数据，所述样品架第一和第二之间被替换测量装置到所述样品进行分析和所述的位置区由第二获得的测量装置被另外记录在该图像由第一获得的测量装置。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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