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用于分析材料的基材，系统和方法

US11981795 2007-10-31 发明申请

2008-6-26

本发明公开了用于分析材料的基片，系统和方法，所述材料包括设置在所述基片上或基片内的波导阵列，使得从所述波导发出的消失场照射设置在所述基片表面上或基片表面附近的材料，从而允许分析所述材料。所述底物，系统和方法用于各种分析操作，尤其包括核酸分析，包括杂交和测序分析，细胞分析和其它分子分析。