| 重离子辐射诱导染色体断裂计算方法 |
| CN200610105033.8 2006-8-15 发明申请 |
| 2008-2-20 |
| 本发明主要涉及重离子辐射诱导染色体断裂计算方法，尤其涉及细胞接受重离子照射后发生染色体断裂的细胞的数目的计算方法。一种重离子辐射诱导染色体断裂计算方法，其主要特点包括有：A.培养受试细胞，待其处于指数生长期进行下面的操作；B.测定该细胞在培养瓶内平铺状态时的表面积；C.应用流式细胞仪测定G2期细胞的含量；D.测定照射该细胞时采用的射线的平均LET；E.测定受照射细胞的数目N；F.测定细胞培养瓶的内底面积；G.将上述测定值代入方程式求解。本发明的优点是，这一属于生物技术领域的肿瘤细胞接受重离子照射后细胞内发生染色体断裂理论计算模型的建立可以解决重离子临床放射治疗计划制定时肿瘤细胞辐射敏感性预测的瓶颈。该模型的应用可以在非在线的情况下快速精确地测定肿瘤细胞对重离子射线的辐射敏感性。 |
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