| 利用双S形LEVENBERG-MARQUARDT和稳健线性回归的温度阶跃校正 |
| CN201010176765.2 2006-12-19 发明申请 |
| 2010-10-27 |
| 本发明涉及利用双S形LEVENBERG-MARQUARDT和稳健线性回归的温度阶跃校正。本发明提供用于通过针对在PCR过程期间可能出现的温度变化对PCR数据进行校正来改进PCR扩增曲线中的Ct确定的系统和方法。具有通过Levenberg-Marquardt(LM)回归方法所确定的参数的双S形函数被用于找到在温度变化之后的区域中曲线的一部分的近似，其中出现温度变化的周期称为“CAC”。为在温度变化之前的区域中曲线的一部分确定稳健线性近似。利用线性近似和LM方法来确定周期CAC或CAC+1的荧光强度的值，并且从表示在出现温度变化之前曲线的一部分的数据集的一部分中减去这些值的差值，以产生已校正变化的数据集。该已校正变化的数据集可以被显示或另外被用于进一步的处理。 |
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