| 样品分析方法和样品分析仪 |
| JP2009074168 2009-3-25 发明申请 |
| 2010-10-7 |
| 要解决的问题 : 以提供一样品分析方法和一种样品分析仪能够节省的时间和努力以改变一个标准样品，通过使定量的分析等分析每标准样品物镜的元件使用一种分析过程几乎不受化学位移导致从化学接合条件。溶液 : 在所述样品分析方法，当定量分析样品中的某一元件5是通过照射所述样品5与一个电子束12和检测特性X-射线13产生从所述样品5，该定量分析所述的检测强度的基础上进行两个或多个所述特征的X-射线13对应的L线以所述元件。版权 : (C)2011，inpit |
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