| 过滤能量过滤器和角度X-射线衍射分析的样品分析仪系统设有装置 |
| JP2010500264 2008-3-27 发明申请 |
| 2010-7-15 |
| 用于X射线分析装置的样品(1)，包括 : 用于发电系统产生的X射线束照射样品分析区域，所述分析区域界定了一种分析手段平面，和X射线发射的激光束的沿入射方向，用于检测检测系统，在至少一个尺寸，由所照射的X-射线衍射分析区组成。分析器系统位于所述样品与检测系统，包括 : X射线衍射表面，形成部分绕回转轴线回转面被分析中所含的平均平面，与回转轴不同的方向入射并通过中心的分析区，和在与衍射面被定向以衍射X射线向检测系统。 |
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