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样品分析方法，和样品分析仪

JP2005514947 2004-10-19 发明申请

2007-4-19

本发明，一输出从所述分析工具(2)输出一个物理与所述的双积分量相关的电路2(11)通过利用一种技术用于分析样品。本发明中，所述的双积分电路，用于分析仪(2(11)2)的输出从所述启动所述2输入的双积分电路(11)的物理量输出所述时间间隔的开始，该分析工具(2)之前提供和不同的是样品和它之后被确认。