| 分析仪器、设备和方法 |
| US11919323 2006-4-25 发明申请 |
| 2010-2-18 |
| 公开了样本分析设备，其可以包括处理电路，所述处理电路被配置为从根据一个分析参数集配置的分析组件获取一个数据集，并且使用另一个先前获取的数据集来准备另一个分析参数集。 还公开了样本分析方法，其可包括从分析组件获取第一数据集和第二数据集，并使用过程和控制组件来处理第一数据集以准备第二分析组件参数集。 公开了样本分析仪器，其可以包括耦合到存储设备的处理电路，其中所述存储设备包括与数据参数值相关联的分析组件参数集，其中所述分析组件参数集中的个别分析组件参数集与所述数据参数值中的个别分析组件参数集相关联。 |
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