| 样品的分析方法，和样品分析仪 |
| JP2005344457 2005-11-29 发明申请 |
| 2007-6-14 |
| 要解决的问题 : 以照射玻璃基板的一个有机EL元件与光来分析一个特性一种有机膜的。溶液 : 一样品分析仪1与该有机EL元件50是安装在一个级4，以使所述玻璃基板51为一上侧，并发射所述光向所述玻璃基板51，以测量振幅比和所述有机EL元件50中的一相位有关的差。该样品分析仪1中的选择还一种结构模型响应于所述发射光的反射光K1-K3; 并发现该幅度比和该相位差异，通过第一的计算处理，或第二的计算处理，在响应于所述的一空间60的厚度尺寸的有机EL元件50，基于所选择的模型。该样品分析仪1测量的比较结果与一个基于所述计算处理结果发现通过在所述模型以执行适当地配合，并由此确定所述最佳模型所进行的一些模型以分析该特性有关在所述有机EL元件50。版权 : (C)2007，inpit |
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