| 样品分析方法，样品分析仪和程序 |
| JP2006226952 2006-8-23 发明申请 |
| 2008-3-6 |
| 要解决的问题 : 以提供一样品分析方法，样品分析仪和一个程序能够分析的一种通过测量样品更准确地比从一个方向。溶液 : 一个光照射是通过一个测量装置从所述透光性基板侧，和一个光的偏振状态; 由一种有机EL元件的面板50反射，被测量。同时，该光照射是通过一个测量装置，从所述盖部件侧位于相对所述的半透明衬底，和所述反射的光的偏振状态的所述有机EL元件的面板50是测量。一分析部分中读出一基板侧模型和一盖侧模型，对应于每个测量从两个方向。所述分析部计算的理论该光的偏振状态，基于所述基板侧上的模型和所述理论光的偏振状态，基于所述盖侧上的模型，分别。所述分析部进行拟合，基于所计算出基于所述基板侧上的光的偏振状态模型; 该计算基于所述盖侧上的光的偏振状态模型，该偏振状态测量从所述衬底侧; 从所述盖侧和所述测得的偏振状态。版权 : (C)2008，inpit |
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