装置用于测定材料的变形状态的方法中的原子-功率显微镜
 
RU2012147674  2012-11-8  发明申请

2014-5-20
 
  装置,用于测定材料的变形状态的方法中的原子-功率的显微镜表示机构,dvigayushchii与固定夹持样品在相反侧,其从被探针原子-功率显微镜上,并具有总金属底座,固定在支撑架上的样品支架原子-功率显微镜,其两个侧面上被两个平行导轨,其在旋转把手的螺钉与分割相对于左和右螺纹的横向轴线,提供同时发散和迎面而来的,移动可动夹具,其特征在于与rastyazhnym装置机构是由在所述原子中形成一个内置的功率显微镜机构,从而供应和去除的所述的扫描探针(悬臂)发生自动与所述辅助定位装置的所述的显微镜。
 
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