| 样品分析方法和样品分析仪 |
| JP2007152232 2007-6-8 发明申请 |
| 2008-12-18 |
| 要解决的问题 : 以执行所述质量分析下面的几个μm的精细异物或引起所述一装置或所述等的缺陷。溶液 : 一种机构，用于照射所述异物的取样探头前端具有一激光束被设置; 和所述采样的该异物的精细异物和所述加热是通过执行所述相同的探针。由于该精细异物被加热，通过激光照射，一探针合适的用于采样被使用而不提供一种特殊的加热机构对该样品探针本身。进一步，由于一个机构不分离直接照射所述的精细异物所述精细异物与一激光束但气化和热解所述异物通过该导通的热从所述取样探头加热通过所述激光照射被提供，加热，分解和气化过程是稳定和高再现性的数据被获得。由于所述探针是直接安装在一个质量分析仪，该分析是在一种非污染状态和执行; 通过只加热所述的异物所述探针的前端部通过所述激光束，一区域所述的前端部以外的所述探针是不加热，即使如果污染物被连接到所述所述探针的所述前端部以外的区域，和一质量光谱中的良好s\/N被获得。版权 : (C)2009，inpit |
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