| 固体样品分析仪和固体样品分析方法。 |
| JP2004053976 2004-2-27 发明申请 |
| 2005-9-8 |
| 要解决的问题 : 提供一种固体样品分析仪和一个用于精确测量固体样品分析方法所述待测成分的量。溶液 : 该固体样品分析仪包括一个坩埚2，由它可容纳一固体样本S到被测量的; 一等离子体炬6，由它提供一个通过所述加热和熔化的气体产生SG该待测样品S和激励所述气体SG; 一用于分散光谱仪8所述气体通过所述激励产生的光L的SG; 和一个检测器9所述分散的光。而所述坩埚2是一个更高的温度比所述熔体点处被加热的所述样品S以被测量，该待测样品S被甩到所述坩埚2和被加热和熔化在一个拉伸，和该待测样品S的所述成分分析是通过使用一个频谱进行当激发光谱产生的光L的SP所述气体SG，其中细颗粒中所述成分中的SA到因此产生被测量的是包含由所述等离子体炬6。 |
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