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产业专利数据

用于同时进行单分子原子力显微镜和荧光测量的系统、设备和方法

US13569927 2012-8-8 发明授权

2014-2-18

一种集成原子力显微镜(AFM)和荧光显微镜(FM)的装置、系统和方法。一个特别的应用是与AFM力谱同时的单分子荧光。包括一种使AFM针尖与分子或其它纳米级物体以高精度对准的方法。