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用于产生高的尖端，强局部电磁场强度，使用扫描近场光学显微镜中，具有布喇格反射器，其被设置在预定的距离从顶点部分和轴

DE102012001685 2012-1-25 发明申请

2013-2-28

可用本发明是指一种用于制造点高，位于电磁场强度强，其特征是由该事实在一个预定义的距离从其顶点在它们的柄一反射器是在结构化。