| 结构化照明显微镜光轴上扫描物体位置与强度相关的高度测量 |
| US12966207 2010-12-13 发明授权 |
| 2014-4-22 |
| 一种使用显微镜对物体成像的方法，包括 : 获得轴向响应数据，所述轴向响应数据表示所述物体的顶表面和所述显微镜的物镜之间的间隔与被所述物体的顶表面反射的光的强度之间的关系； 将所述对象定位在距所述物镜一定距离处，所述物镜位于所述轴向响应数据的线性区域内； 以多个周期性图案顺序地照射所述对象； 获得所述对象的多个图像，每个图像是由所述多个周期图案中的对应一个周期图案照射所述对象产生的； 基于所述对象的所述多个图像确定所述对象的重构图像； 以及基于重建图像的强度的变化来确定对象的顶表面的地形轮廓。 |
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