| 金属的确定程度的方法扫描探针显微镜的结构与所述辅助 |
| RU2012141314 2012-9-28 发明申请 |
| 2014-4-10 |
| 1。金属的确定程度的方法与所述辅助扫描探针显微镜的结构，由中，执行的操作研磨，抛光样品和刻蚀所述的表面，和然后产生的图像被处理表面与所述的帮助扫描探针显微镜，其特征在于 : 在所述颗粒形成的图像是结构件中，是确定的空间参数。这些元素的和是metallograficheskoe该结论在所述的金属结构作为一个结果的干扰的程度通过比较与标准样品的参数操作。2。根据权利要求1的方法，其特征在于 : 作为参数用于所有检测到的外壳是确定的平均宽度的金相结构元件的边界。3。根据权利要求的方法1，其特征在于，作为用于金相外壳被确定的参数的所有检测到的边界区域的表面比结构元件到所述测量的整个表面的区域。4。根据权利要求1的方法，其特征在于作为用于外壳被确定的金相粗糙度参数的铁氧体的颗粒。 |
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