| 一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法及装置 |
| CN201310597450.9 2013-11-22 发明申请 |
| 2014-3-19 |
| 本发明实施例涉及光学技术领域，公开了一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的方法，包括：通过显微镜对样本进行多次扫描，获取扫描得到的多幅图像的数据，并根据获取得到的所述多幅图像数据，获取样本目标点在多幅图像中像素点信号强度；根据获取得到的所述样本目标点在多幅图像中像素点信号强度，计算经过对所述多幅图像的数据处理得到的重构图像中样本目标点的信号强度。本发明实施例还公开了一种提高多光子荧光显微镜成像分辨率的装置。采用本发明，通过特定的数学解算公式，实现了多光子成像技术和结构光照明成像技术的融合，在保持多光子原有成像深度的优点上，增加超分辨成像能力。 |
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