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一种提高透射电子显微镜照射样品成功率的方法

CN201310597909.5 2013-11-22 发明申请

2014-3-19

本发明提出了一种提高透射电子显微镜照射样品成功率的方法，通过取样系统中玻璃针的吸附力提取样品以及破损碳膜，摆放在碳膜上表面完好的区域，重新让透射电子显微镜对样品进行拍照，有效地降低了样品的损坏率，改善了透射电子显微镜对样品照射的成功率，降低了流程的成本。