| 检测方法，掺杂纳米利用开尔文探针力显微镜导电聚合物 |
| KR1020120100612 2012-9-11 发明申请 |
| 2014-3-19 |
| 本发明涉及一种纳米掺杂的检测方法使用表面电荷的导电聚合物显微镜。现有轻敲模式原子力显微镜通过类似的形状或大小颗粒无法区分。此外，其他电位测量系统，例如ζ-电位中断的化学官能团和不适当的测量掺杂纳米颗粒表面电荷由于封装。因此，PNAP的基本电特性不能完全描述。然而，通过本发明，聚苯胺纳米颗粒的功函数在对翠绿亚胺碱状态识别具有大约差从类似的270MeV纳米颗粒在对翠绿亚胺碱状态下穿过开尔文探针力显微镜上，从而使，该检测方法的掺杂纳米导电聚合物使用的表面电荷的显微镜可以区分聚苯胺根据存在的纳米粒子掺杂，使得在该方法可以有效地应用于一般分析和实验的半导体装置的使用具有或不具有掺杂纳米颗粒作为导电涂覆剂。 版权kipo2014 |
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