| 用于一光学显微镜测试样品的装置和测试过程中溶解所述的子波长覆盖 |
| DE102012214932 2012-8-22 发明申请 |
| 2014-2-27 |
| 为描述一用于一光学显微镜测试样品的装置，其示出了一个样品在不同照射条件与一本地溶解在所述的子波长覆盖所述可见光谱区，其中所述测试样品的装置覆盖 : 一样品本体(9)，其被训练的作为所述微复制与所述显微镜(17)，一基板(11)从一个介电和金属的一个层(12)，其上涂布，其一个表面具有，和几个纳米结构(15; 16)表现出，其被设计作为集合或凹槽或该级在所述的表面层的金属(12); 由此，每个纳米结构(15，16)具有一个扩展在所述的子波长覆盖沿该表面看到的和在至少两个纳米结构(15，16)从每个其它一距离，以具有，它位于在所述的子波长覆盖; 一建议模块(14)，其用于生产oberflchenplasmonen的可见光谱区(13)与所述的频率在该层的金属(12)所述样品的本体(9)是训练，由此所建议的模块(14)是想要产生的驻波场和一控制器(25)，其是连接与所述源的建议(14)和其头用于这样的一种方式中建议的模块，其在所述oberflchenplasmonen所述驻波场的最大值是可调在改变几个纳米结构(15，16)，其中所述的纳米结构(15，16)在该表面在改变的地方使一光学远场的解耦和产生以不同的照射条件。 |
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