| 金相分析测试所述的系统的方法所述的基础上的所述扫描探针显微镜 |
| RU2012135946 2012-8-22 发明申请 |
| 2014-2-27 |
| 1。金相所述的方法测试所述的系统的基础上分析所述扫描探针显微镜，其被由该事实被完成之前该模型的表面通过研磨，抛光和刻蚀和它们进行所述的表面与所述辅助分析的所述扫描探针显微镜，其特征是由所述的事实所述实物模型，其选择用于所述的分析结构设备的部件被用于作为所述模型，该实物模型之前的结构[e][ementa]是进行所述开口，它是建立该模型的模型之前，制备基于所述金属指示所述元件的结构，该实物模型之前，它们连接的金相设备，它们进行必要的分析和为了的比较结果所述相同的模型的模型所分析的结果，通过所获得的实验室[sposobom的]。2。上的方法[P]。1，其特征是由所述的事实所指示的开口和所述模型的模型进行进行与所述线程，使它可能以螺钉模型的模型旁的该实物模型结构元件在这样的一种方式使该端模型的模型会被位于超过该电平所述实物模型的表面所述的结构的[elementa]。3指示的。方法在[P]。1，其特征是由所述的事实模型所指示的模型通过该组螺钉被附着，其中所述的实物模型之前保留模型的模型结构元件在这样的一个模型的模型的方式使该端会被位于超过该电平所述实物模型的表面的所述[elementa的结构]。4指示的。方法在[P]。1，其特征是由所述的对接端之外的模型的事实所述模型它们使通过点指示的所述标记在所形成的交叉和比较所述周围区域的图像该标记，所述表面处理后所述扫描探针显微镜之前获得的所述指示的实物模型之前，与所述图像E |
微信公众号