| 具有亚波长分辨率光学显微镜的测试样品装置和测试方法 |
| US13972749 2013-8-21 发明申请 |
| 2014-2-27 |
| 一种用于光学显微镜的测试样品装置，其在可见光光谱范围的亚波长范围内以局部分辨率成像不同光状态下的样品， 其中所述测试样品装置包括 : 试件试件， 其被设计成用显微镜进行显微检查并具有其上布置有纳米结构的表面， 其中沿着所述表面观察的每个纳米结构具有在所述亚波长范围内的尺寸，其中所述纳米结构彼此间隔开的量位于所述可见光谱范围的波长之上，并且其中所述纳米结构可在它们发光的亮状态和它们不发光的暗状态之间集体切换，以及被设计成在所述亚波长范围内移动所述测试件的驱动器，由此可以通过所述测试件的不同移动状态来实现不同的光状态。 |
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