| 用于高空间分辨率的显微镜成像一个样品中的一个感兴趣的结构 |
| WOEP13059230 2013-5-3 发明申请 |
| 2013-11-14 |
| 一种显微镜(1)用于高空间分辨率成像一个样品(2)中的一个感兴趣的结构包括一物质具有一第一状态与第一与第二的光谱特性的光谱特性和一第二状态，所述显微镜包括 : 一物镜透镜组件(3)，一种波前调制光学装置(10)适于在空间上改变一个传送光的强度束(5b)，一探针检测器(15)设置到检测一个光学测量信号从所述物质的一部分在第二状态和放置在所述传输光的光束的区域(5b)与一个强度适合于不以第一和第二之间的所述物质转印状态的所述显微镜(1)包括一相位对比显微镜系统，其包括一个强度检测器(26)设置到一个照明光束的检测强度(17)所述的照明光后束(17)具有穿过该样品(2)，所述物镜透镜组件(3)和所述波前调制光装置(10)。 |
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