| 透射电子显微镜和电子束干扰的方法。 |
| JP2012101654 2012-4-26 发明申请 |
| 2013-11-7 |
| 要解决的问题 : 电子束所述干涉仪中添加Bi-棱镜中的双棱镜，一个精细调整机构，用于一样品通过样品保持装置，同时样品被进行以一预定距离，一个检测器行的由观察该干扰条纹的强度的变化，而不限制所述频率由于所输送的空间分辨率，而且，所述仅仅通过重新排列的干扰显微镜得到的图像被获取的数据。溶液 : 电子传输电子显微镜40中的干扰在一个干涉仪的电子束双棱镜，精细地在该方向垂直于所述光学轴线通过一个样本保持装置13; 同时该样品3是进行到一预定距离，通过观察该变化的一个行检测器在该干扰条纹的强度，简单的重新排列所获得的数据。该输送空间不受限制，通过该分辨率所述的频率，所述相位的所述高分辨率图像获得的是，将选择的绘制 : 图1 |
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