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产业专利数据

透射电子显微镜检测系统

US13217088 2011-8-24 发明申请

2012-3-1

在透射电子显微镜检测器系统中，在图像采集期间从像素读出图像数据并进行分析。根据分析结果修改图像采集过程。例如，分析可以指示在数据中包括图像伪影，例如充电或起泡，并且可以从最终图像中消除包括伪影的数据。 CMOS检测器提供以高数据速率选择性地读出像素，从而允许实时自适应成像。