产业专利数据
 
与原子力显微镜绝缘的材料表面分析方法
 
JP2011066671  2011-3-24  发明申请
2012-10-22
 
  要解决的问题 : 以得到一种形状的图像和一个绝缘的材料相图像表面，如聚合物，在一个高分辨率。溶液 : 一个绝缘的材料的表面分析方法与一种原子力显微镜包括进行AFM测量通过抑制所述绝缘材料的充电由于对静电高湿度环境下。版权 : (C)2013，inpit
 
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