| 用于成像的光学显微镜样品的方法和装置结构 |
| JP2013517222 2011-6-27 发明申请 |
| 2013-8-22 |
| 该样品结构(2，34)通过光学显微镜，该方法用于成像，光学显微镜，其可以被移到一种通过使用一个标记到该样品状态结构(2，34)和一步骤的，每个图像，分别，仅整个标记的一个子集，可被拾取的一光学显微镜移，样品结构(2，34)通过顺序地拾取，并产生一系列单独的图像数据组的所述步骤中，所述各自的所述标记的子集; 1分别示出一个所述的标记，以确定一个范围的光分布在所述分辨率的限制所述成像光学显微术是大于所述平均每个具有之间的距离，和步骤，每个的多个的连续至少2的图像prioriyties耦合分别与一步骤，用于产生两个块，每个块被包括在每个重叠设置的，并设置一步骤叠加图像，该叠加图像之间的所述偏移和所述的图像一个识别一个设定的步骤，所述识别的图像偏移的所述的基础上，至少两个叠加的图像数据。所述各个组的组1包括在所述的图像，和一个校正的步骤，表示一个标记的光分布和一个中心确定所述的位置点，所述中心点位置和偏移校正的图像作为一个整体被结合一步骤中，被提供。 |
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