| 显微镜和其像差校正方法。 |
| JP2012022012 2012-2-3 发明申请 |
| 2013-8-19 |
| 要解决的问题 : 给定的喷出的同时,抑制损伤,在该位置的所述样品与高精度的校正观察到的像差。溶液 : 所述的波激励光从该光源2所述调制和空间光调制元件13; 2在激励光的喷出和三维quantizedtransformation扫描器10,在该扫描所述扫描器10的样品通过荧光激励光的位置从所述荧光体是拍摄和产生的获取一个图像拾取部分20,扫描器10一种由至少1部分相对于所述的位置上喷出所述点状施加一激励光; 荧光是在所述的喷出产生的拍摄由该拾取部20,它是基于所获取的位置。在一个确定的喷出所述荧光点图像的像差的软件,其是基于确定的空间光调制元件13被提供有一控制部分5和所述显微镜1。选择的绘制 : 图。1 |