| 所述光扫描探针显微镜和扫描探测光的光谱电子产量spectromicroscope电子产量 |
| JP2009093570 2009-4-8 发明授权 |
| 2013-8-14 |
| 要解决的问题 : 以提供一个扫描探针光电子收率光谱显微镜和扫描探针光电子收率spectromicroscope用于分析一个表面上的一局部区域通过利用近场光,和一个表面上获取信息一个任意的环境中的状态包括所述空气。 溶液 : 在所述扫描探头光电子收率光谱显微镜用于获得该信息在该表面状态的一样品通过使用近场探针用于照射该样品安装在一个阶段与该光谱的近场光,该样品是与所述近场光照射的同时,所述近场光的能量是变化的。从所述样品发射的光电子通过所述近场光的照射,一外壁上形成在所述近场探针的尖端,并由一金属膜捕获的偏置在一正电位。一微电流是通过捕获所述的光电子获得,和测量以得到一种光电子能谱。 版权 : (C)2011,inpit |