| 用于提取样品的方法从样品架上的冻结基板和固定在电子显微镜，包括保持传输时隙在在整个过程的低温温度和保持通过静电力样品 |
| DE102011122607 2011-12-30 发明申请 |
| 2013-7-4 |
| 程序用于提取一个样品(2)从一个冷冻基板(1)和所述的样品(3)紧固在一个样品夹持器(3)一种电子显微镜中，在特定的一个phasenkontrastmikroskop，其中所述样品(2)，同时整个过程在一个在特定的低温温度(tk)更少的为-135a°C，优选地小于-140a°C，被保持，综合以下工艺步骤 : 自由切割的样品(2)从所述冻结基板(1)通过一聚焦的离子光束，卷取所述样品通过一个过渡区域的装置(4)，传输所述过渡区(4)与该样品(2)到所述样品支架(3)和所述样品的处理(2)上，以去probenhalter(3); 其中所述样品(2)与一个运输槽口(8)的所述过渡区(4)取，其中所述运输凹口(8)整个过程期间在所述的低温温度(TK)保持，并由此在特定样品(2)。在该运输槽口(8)通过静电的力被保持的装置。 |
微信公众号