用于多光子显微镜的非接触总发射检测方法和系统
 
US13383248  2010-7-12  发明申请

2013-6-20
 
  公开了一种具有照明源的多光子显微镜,所述照明源将照明光透射到具有物镜布置的壳体中,所述物镜布置用于照明设置在所述壳体外部的样品,并将从所述样品发射的发射光的第一部分引导到检测系统。 光收集系统设置在物镜装置附近,用于将与发射光的第一部分同轴的发射光的第二部分引导到检测系统,使得基本上所有在照明区域上、周围和上方的发射光都被检测到。
 
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