| 高分辨率的光显微镜 |
| WOEP12074576 2012-12-5 发明申请 |
| 2013-6-13 |
| 本发明涉及一种装置，用于所述的光学分析样品，也称为作为一种显微镜，其是提供用于一高分辨率的光学分析方法用于检测荧光分子。所述装置和所述的方法进行使用该装置被设计成使得激发产生的光通过一个激励光源被引导到一个样品和通过所述样品发出的光被检测。该装置和所述的方法是，其特征在于，所述激励光被与所述的同步检测过程。所述装置，其特征在于，具有一极化装置提供用于调制所述所述激励光的偏振通过一调制信号的装置，所述调制信号具有或包括至少一个的频率，在特定的一个预确定的频率或多个预先确定的叠加的频率，或所述调制信号由一的非重复序列的信号。 |
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