| 扫描透射电子显微镜用于聚合物测序 |
| US13303121 2011-11-22 发明申请 |
| 2013-5-23 |
| 一种扫描透射电子显微镜，包括产生电子束的电子束源。 提供束光学器件以将电子束会聚到探针，例如纵向拉伸的探针。 提供一个载物台，用于将样品保持在电子束的路径中。 所述样品包含一种或多种待测序的聚合物。 电子束扫描仪扫描通过样品的电子束。 控制器可限定与聚合物的位置相对应的一个或多个扫描区域，并控制一个或多个射束扫描器和载物台以选择性地扫描扫描区域中的电子束探针。 控制器还可以在成像期间调谐光束光学器件。 提供一个或多个检测器以检测透射通过样品的电子，从而为每个扫描区域生成图像。 控制器还可以分析一个或多个图像以对聚合物进行定序。 |
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