| 与光学显微术和粒子束多个样本的显微镜显微 |
| DE102011084829 2011-10-19 发明申请 |
| 2013-4-25 |
| 一用于所述的显微样品的方法使用光学显微镜和颗粒分束镜提供了使所述样本被划分为一局部的量和所述的残留量和所述样本部分量被制备到包含注册标记。所述所述部分量被使用光学显微镜成像的样本和粒子分束镜，与所述结果使一对光学显微图像和粒子束的显微图像被用于每个所述部分量的样品获得的。所述对位置登记的相对于每个其它使用所述登记标记。所述位置登记的所述的图像通过去除所述登记标记对被修改。一配准算法被训练，其评估所述图像内容和发出一个质量测量用于一位置登记每对的。所述所述剩余量的被成像的对象。这些对是由经过训练的位置登记的登记算法以最大化所述质量测量。 |
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