| 扫描探针显微镜 |
| WOJP11072812 2011-10-3 发明申请 |
| 2013-4-11 |
| 为了测量该水分子的排列结构在一个样品培养的培养物中的流体接口流体，所述该样品的表面的不规则性在所述培养液，电位分布，和组合物的分布，排列结构，和所述类似的分子，蛋白质，及该等具有高空间分辨率，一个扫描探针显微镜是提供具有一探头(1)，一个样品固定器(11)在其一个样品(3)被安装，一个振荡器(2)，其中所述的位置移位所述探头，脉冲激光束(22，23)，其中所述探针是通过测量入射在一个区域在所述试样; 一滤波器配备有检测器(25)，其测量所述输出光的强度(24)从所述样品通过能量输出光谱，一种扫描机构(31)移动所述样品固定器，和一个控制装置(26)，该表面和测量所述的形状所述标本的，和线性\/非线性光学特性。所述探针提高检测效率是通过周期性地优化所述振荡器的所述探头移动所述的位置和所述输出光强度依赖于所述之间的距离最大化所述探针和所述样品通过所述控制装置。 |
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