| 荧光显微镜系统和荧光物质的定量方法 |
| JP2011144748 2011-6-29 发明申请 |
| 2013-1-17 |
| 要解决的问题 : 以提供一个荧光显微镜系统能够总是高度精确定量的荧光物质在一种测量样品。溶液 : 所述荧光显微镜系统获得一测量样品的荧光图像30由一种荧光显微镜10以及量化一种荧光物质从所述使用校准曲线获得的荧光图像。该荧光显微镜系统包括 : 一个距离测量部分110用于测量从所测量的一个表面的距离样品30以其荧光图像的一部分被获得; 一个存储部分120用于存储多个校准曲线，根据从所述所测量的样品表面的距离30; 和一荧光物质量化部130用于选择校准曲线对应于所述距离测量在所述距离测量部分110，从所述存储部120和量化所述荧光物质从所述荧光图像使用所述选择校准曲线。版权 : (C)2013，inpit |
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